1适用范围
本标准规定了用滤膜压片/γ能谱法测定环境空气气溶胶中γ 放射性核素的方法。
本标准适用于辐射环境常规监测，环境空气气溶胶中γ 放射性核素的测定。
当采样体积为10000m3(标准状态）， 测量时间为24小时时，本标准测定的各γ放射性核素探测下限为5 µBq/m3~ 100µBq/ m3,探测下限见附录A。
2规范性引用文件
本标准内容引用了下列文件或其中的条款。凡是不注日期的引用文件，其有效版本适用于本标准。
GB/T 11713高纯褚 γ 能谱分析通用方法
GB/T 117 43土壤中放射性核素的γ 能谱分析方法
HJ 1009辐射环境空气自动监测站运行技术规范
3术语和定义
下列术语和定义适用千本标准。
3.1气溶胶aerosol
液体或固体微粒分散在空气中形成的相对稳定的悬浮体系。
3.2标准状态standard state
温度为273.15 K,压力为101.325 kPa时的状态。本标准中的放射性核素活度浓度均为标准状态下的活度浓度。
4方法原理
通过大流揽或超大流显采样器抽取定揽体积的空气，使空气中气溶胶粒子被截留在滤膜上，滤膜经压片处理后用高纯锗γ 能谱仪分析其γ 放射性核素组成及其浓度。
5试剂和材料
5.1滤膜： 膜面流速为0.6 m/s时 ，对0.3 µm标准粒 子的截留效率不低千95%。在0.6 m/s的 洁净空气流速时， 压降小于1 kPa。天然放射性核素含量低，无人工放射性污染。易于压片， 压片后表面平整，不易变形。如需进一步放射化学分析，还应具有完全溶解性。
5.2样品容器： 圆柱状容器，直径和高度与压片后样品相近。选用天然放射性核素含量低、无人工放射性污染的材料制成， 如ABS树脂或聚乙烯等。
5.3能量刻度源： 性能和技术指标执行GB/T 11713有关刻度源的规定。
5.4效率刻度源：以空白滤膜为基质，用放射性标准物质均匀涂抹，按照与空白样品相同的方法制备成直径与样品相同、高度与样品相近的圆柱形刻度源， 装入样品容器并固定密封。性能和技术指标执行GB/T 11713的相关规定，推荐优先使用发射单能γ射线的核素。
5.5检验源： 长寿命的、高中低能区至少各有一条特征Y射线的刻度源 ， 活度与效率刻度源相近，其 性能和技术指标执行GB/T 11713有关刻度源的规定。
5.6滤膜保存袋： 聚乙烯等材质。
5. 7防污用品： 聚乙烯等材质的袋或菏膜。
6.8一次性手套： 聚乙烯等材质。
6仪器和设备
6.1气溶胶采样器： 性能和技术指标执行HJ 1009有关采样设备的规定。
6.2 Y能谱仪： 性能和技术指标除执行GB/T 11713的相关规定外 ， 探测器的相对探测效率一般应不小于30%。
6.3天平 ： 感量0.01g。
6.4干燥设备： 干燥器、干燥箱等。
6.5压片机： 可提供不少于10吨的压力。
6.6压片机模具： 不锈钢材质。
6.7游标卡尺：0 mm~150 mm,分度值0.1 mm。
6.8温度计：用于校准采样器温度测揽部件，测量范围-30℃~50℃,精度±0.5℃ 。
6.9气压计：用于校准采样器大气压测最部件，测量范围50 kPa ~ 107 kPa ,精度±0.1 kPa。
6.10流揽校准器：用于校准采样器流量， 在采样器流量范围内， 误差≤2%。
7样品
7.1采样前准备
7.1.1用酒精棉清洁工作台，工作台尺寸应大于滤膜尺寸。取一张滤膜，将受尘面向上平放在工作台上， 滤膜的大小比采样器采样口的有效尺寸略宽，检查滤膜边缘是否平滑、册厚是否均匀，且无毛刺 、无污染、无碎屑、无折痕、无破损。
7.1.2在滤膜受尘面的两个对角标识滤膜编号。将滤膜放入干燥设备中平衡，取出平衡后的滤膜，立即用天平称量(m)。称量后的滤膜平展放入与滤膜编号相同的滤膜保存袋，采样前不得折叠。
7.1.3用清洁干布擦去采样头内部、滤膜夹和滤膜支待网表面的灰尘， 检查确认滤膜支撑网无堵塞，滤膜夹无污染、无损坏。
7. 2样品采集
7.2.1将滤膜受尘面朝向进气方向，平放在滤膜支持网上，同时检查滤膜编号，将滤膜牢固夹紧，确保不漏气。
7.2.2按照采 样器使用说明， 设置采样参数， 启动采样。记录采样起始时间、采样流量、环境温度和环境大气压等参数。采样体积一般不小于10000 m3(标准状态）。
7.2.3采样结束后，从滤膜边缘夹取滤膜，取滤膜时，如果发现滤膜破裂，或滤膜受尘面上的积尘边缘轮廓模糊、不宪整，则该样品作废，应重新采样。 将滤膜受尘面向里沿长边均匀对折，放入与滤膜编号相同的滤膜保存袋中。记录累积采样时间、采样流量、采样体积、环境温度、环境大气压、天气状况和空气质量状况等信息， 采样记录表见附录E。
7. 3样品运输
样品采集完成后，应尽快送实验室进行样品制备。样品运输过程中，应尽量避免剧烈振动。
7.4样品制备
7.4.1将滤膜放入干燥设备中进行氡子体衰变， 根据氡子体活度确定衰变时间， 一 般为3天~ 5天； 如果测显41Ar、88Kr等半衰期特别短的核素， 可不进行氡子体衰变。
7.4.2取出滤膜， 立即用天平称量（m2）。
7.4.3用酒精棉清洁压片机模具和工作台。打开滤膜，将受尘面向上平放 在工作台上折叠（如果滤膜附有支持层，应先除去支持层）。需要将多张滤膜制备成一个样品，可 将滤膜（如果滤膜附有支持层，应先除去支持层）依次叠加整齐后折叠。推荐优先按照图1所示方法折叠。
图1滤膜折叠示意图
7.4.4折叠后的滤膜塞入压片机模具底部， 将压片机模具放在压片机中心位置， 用不少于10吨 的压力压实滤膜，保持2分钟以上。
7.4.5用游标卡尺测量高度（h）,用天平称量（m3） 。
7.4.6折叠和压片时防止滤膜上的积尘洒落。压片后的样品表面平，整积尘分布均匀， 不易变形 ， 直径与效率刻度源相同，高度尽量与效 率刻度源相近，必要时可采用与空白滤膜依次叠加整齐后折叠压片等方法。
7.4.7在压片后的样品表面标识滤膜编号，装入样品容器并固定，密 封后标识 样品标签，在洁净、室温环境下保存。
7.5空白样品制备
取与采样淀膜同样尺寸的空白滤膜，按照与样品制备( 7.4.3、7.4.4和7.4.7 )相同的操作步骤制备空白样品。
更多标准内容点击以下链接获取标准全文:
